| 000 | 00760nam a2200253Ii 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 511 | ||
| 003 | DO-SlITS | ||
| 005 | 20200506024903.0 | ||
| 008 | 141025s9999 xx 000 0 und d | ||
| 040 |
_aDO-SlITS _cDO-SlITS |
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| 082 | 0 | 4 |
_221 _a389.1 _bR436m 2010 |
| 100 | _aRestrepo Díaz, Jaime | ||
| 245 |
_aMetrología : aseguramiento metrológico industrial _cJaime Restrepo Díaz |
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| 250 | _a1 edición | ||
| 264 | 1 |
_aMedellin _bInstituto Tecnológico Metropolitano |
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| 300 | _at- | ||
| 336 |
_atexto _btxt _2rdacontent |
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| 337 |
_asin mediación _bn _2rdamedia |
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| 338 |
_avolumen _bnc _2rdacarrier |
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| 504 | _aIncluye bibliografías e índice. | ||
| 650 | _aMetrología | ||
| 650 | _aSistema internacional de unidades. | ||
| 942 |
_2ddc _cBK |
||
| 999 |
_c1617 _d1617 |
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