| Título (R ) |
Parte 1/Conceptos Generales 1/Capitulo 1/Tipos de aplicaciones de los instrumentos para medición, 3/ ¿Por qué estudiar los sistemas de medición? 3/Clasificación de los tipos de aplicaciones de la medición, 5/Maquinas y procesos asistidos por computadora, 8/Conclusión, 8/Problemas, 9/Bibliografía, 11/Capitulo 2/Configuraciones generalizadas y descripciones funcionales de los instrumentos de medición, 12/Elementos funcionales de un instrumento, 12/Transductores activos y pasivos, 16/Modos analógico y digital de operación, 17/Métodos de ajuste a cero y de deflexión, 19/Configuración de entrada-salida de los instrumentos y sistemas de medición, 20/Métodos de corrección para entradas de interferencia y modificadoras, 23/Conclusión, 33/Problemas, 34/Capitulo 3/Características generalizadas de desempeño o funcionamiento de los instrumentos, 36/Introducción, 36/Características estáticas y calibración estática, 37/Significado de la calibración estática, 37/Valor medido en comparación con el valor verdadero, 38/Algunas estadísticas básicas, 41/Curvas de calibración de mínimos cuadrados, 49/Exactitud de la calibración en comparación con la exactitud instalada, 54/Combinación de errores de los componentes en los cálculos de la exactitud total del sistema, 59/Validación de la teoría mediante pruebas experimentales, 64/Efecto del error de medición sobre las decisiones de control de calidad en la fabricación 65/Sensibilidad estática, 68/Calibración y medición asistidos por computadora: regresión múltiple, 69/Linealidad, 76/Umbral mínimo de ruido, resolución, histéresis y espacio muerto, 77/Legibilidad de la escala, 81/Limites de la escala o alcance, 81/Rigidez estática e impedancia de entrada generalizadas: efectos de carga, 82/Conclusiones importantes sobre las características estáticas, 92/Características dinámicas, 92/Modelo matemático generalizado del sistema de medición, 92/Métodos de simulación digital para el análisis de respuesta dinámica, 94/Función de transferencia operacional, 95/Función de transferencia senoidal 95/Instrumento de orden cero, 97/Instrumento de primer orden 99Respuesta a una entrada en escalón de los instrumentos de primer orden, 102/Respuesta a una entrada en rampa de los instrumentos de primer orden, 108/Respuesta de frecuencia de los instrumentos de primer orden , 109/Respuesta al impulso de los instrumentos de primer orden, 114/Instrumento de segundo orden , 118/Respuesta a una entrada en escalón de los instrumentos de segundo orden, 119/Respuesta a una entrada en rampa acotada de los instrumentos de segundo orden, 120/Respuesta a una entrada a la rampa a la rampa de los instrumentos de segundo orden, 122/Repuesta de frecuencia de los instrumentos de segundo orden, 122/Respuesta al impulso de los instrumentos de segundo orden, 124/Elementos de tiempo muerto, 125/Trazado de graficas logarítmicas de las curvas de respuesta de frecuencia, 128/Respuesta de una forma general de instrumento a una entrada periódica, 134/Respuesta de una forma general de instrumento a una entrada transitoria , 139/Espectros de frecuencia, de señales aleatorias159/Requisitos en la función de transferencia de los instrumentos para garantizar una medición exacta, 174/Selección del sensor utilizando una simulación por computadora, 179/Corrección numérica de datos dinámicos, 181/Determinación experimental de los parámetros del sistema de medición, 184/Efectos de carga en condiciones dinámicas, 189/Problemas, 192/Bibliografía, 198/Parte 2/Dispositivos de medición, 201/Capitulo 4/Medición de movimiento y dimensiones, 203/Introducción, 203/Patrones fundamentales, 203/Desplazamiento relativo: traslacional y rotacional, 204/Calibración, 204/Potenciómetros resistivos, 208/Extensómetro de resistencia, 216/Transformadores diferenciales, 229/Sincros y resolvers, 236/Detectores de reluctancia e inductancia variables, 240/Transductores de no contacto de corrientes parásitas, 244/Detectores de capacitancia, 245/Transductores piezoeléctricos, 255/Dispositivos electroópticos, 262/Técnicas de generación de imágenes fotográficas y electrónicas, 279/Técnicas de análisis de esfuerzo fotoelástico, de recubrimiento frágil y de borde de Moiré, 286/Transductor de desplazamiento a presión (boquilla de aleta), 288/Transductores digitales de desplazamiento (codificadores de traslación y de rotación), 293/Transductores ultrasónicos, 300/Velocidad relativa: traslacional y rotacional, 302/Calibración, 302/Velocidad mediante diferenciación eléctrica de señales de voltaje de desplazamiento, 303/Velocidad promedio a partir de Ax y At medidos, 304/Sensor de velocidad angular con contrapesos (centrifugo) mecánico, 305/Contadores y temporizadores de revoluciones mecánicos, 307/Métodos de codificador tacómetro, 307/Métodos basados en láser, 309/Sensores de velocidad (microondas) de radar, 309/Métodos estroboscópicos, 310/Transductores de velocidad traslacional (Detectores de bobina móvil y de imán móvil), 312/Tacogeneradores de cd para medición de velocidad rotatoria, 313/Tacómetro con copa de arrastre de corriente parasita, 314/Mediciones de aceleración relativa, 315/Detectores de desplazamiento sísmico (absoluta), 315/Detectores de velocidad sísmica (absoluta), 319/Detectores de aceleración sísmica (absoluta) (acelerómetros), 320/Acelerómetros tipo deflexión, 321/Acelerómetros tipo balance nulo (servo), 329/Acelerómetros para navegación inercial, 333/Carga mecánica de los acelerómetros en el objeto de prueba, 334/Vibrómetros Doppler-láser , 334/Calibración de detectores de vibración, 335/Detectores de sacudida, 338/Sensores de desplazamiento angular pendulares (referidos a la gravedad), 340/Sensores de desplazamiento y velocidad angular giroscópicos (absolutos), 343/Máquinas de medición por medio de coordenadas, 357/Medición de acabado superficial, 364/Visión por máquina, 369/Sistema de posicionamiento global (GPS, por sus siglas en ingles), 377/Problemas, 379/Bibliografía, 386/Capitulo 5/Medición de fuerza, momento de torsión y potencia en la flecha, 388/Patrones y calibración, 388/Métodos básicos de medición de fuerza, 390/Características de los transductores de fuerza elásticos, 396/Transductores con extensómetros adheridos, 401/Transductores basados en transformadores diferenciales, 406/Transductores piezoeléctricos, 406/Sistemas digitales de reluctancia variable/oscilador de FM, 409/Efectos de carga, 410/Descomposición de fuerzas vectoriales y momentos en componentes rectangulares, 410/Medición del par de torsión en flechas rotatorias, 418/Medición de potencia en flechas (dinamómetros), 423/Medición de fuerza y par de torsión giroscópica, 427/Transductores de fuerza de alambre vibratorio, 427/Problemas, 429/Bibliografía, 432/Capitulo 6/Medición de presión y sonido, 433/Patrones y calibración, 433/Métodos básicos de medición de presión, 435/Medidores de peso muerto y manómetros, 435/Dinámica del manómetro, 441/Transductores de cilindro vibratorio y otros transductores resonantes, 463/Efectos dinámicos de volúmenes y tubería de conexión, 465/Sistemas líquidos extremadamente amortiguados de acción lenta, 465/Sistemas líquidos moderadamente amortiguados de acción rápida, 467/Sistemas de gas en los que el volumen, del turbo es una fracción pequeña del volumen de la cámara, 471/Sistemas de gas en los que el volumen del tubo es comparable al volumen de cámara, 473/Sonda de presiona de línea infinita, 474/Conclusión, 474/Pruebas dinámicas de sistemas de medición de presiona, 475/Medición de alta presión, 475/Medición de baja presión, (vacío), 481/Medidores de diafragma, 483/Medidor Mcleod, 484/Medidor Knudsen, 485/Medidores de transferencia de la cantidad de movimiento (viscosidad), 486/Medidor de conductividad térmica, 486/Medidores de ionización, 488/Técnica del doble medidor, 491/Medición del sonido, 491/Medidor de nivel de sonido, 491/Micrófonos, 494/Respuesta a presión de un micrófono de capacitor, 497/Intensidad acústica, 507/Emisión acústica, 509/Sistemas multiplexores de señales de presión, 509/Temas especiales, 512/Distribución de la presión, 512/Protección contra sobrepresión de medidores y transductores, 513/Problemas, 513/Bibliografía, 517/Capitulo 7 Medición de flujo, 518/Velocidad, magnitud y dirección del flujo local, 518/Visualización de flujo, 518/Magnitud de la velocidad determinada con un tubo pilot estático, 521/Dirección de la velocidad con un tubo de derivación, una aspa pivotada y una esfera servocontrolada, 529/Indicador de vector de viento dinámico, 533/Anemómetros de alambre y de película calientes, 535/Sensores de velocidad de tubo de choque de película caliente, 548/Anemómetro Doppler con láser de exploración (LDA, por sus siglas en inglés) 548/Gasto volumétrico bruto, 552/Calibración y patrones, 553/Medidores de área constante y caída de presión variable (Medidores de “Obstrucción”), 555/ Tubos de pilot promediadores, 567/Medidores de área variable y caída de presión constante (Rotámetros), 568/Medidores de turbina, 570/Medidores de desplazamiento positivo, 575/Bombas dosificadoras, 577/Medidores de flujo electromagnéticos, 577/Medidores de fuerza de arrastre, 581/Medidores de flujo ultrasónicos, , 582/Medidores de eyección de vórtices, 588/Temas diversos, 590/Gasto másico bruto, 591/Medidor de flujo volumétrico más medición de densidad, 591/Medidores de flujo másico directos, 596/Problemas, 603/Bibliografía, 606/Capitulo 8/Medición de temperatura y flujo de calor, 608/Patrones y calibración, 608/Métodos de expansión térmica, 614/Termómetros bimetálicos, 615/Termómetros de líquido en vidrio, 616/Termómetros de presión, 618/Sensores termoeléctricos (termopares), 619/Termopares comunes, 627/Consideraciones sobre uniones de referencia, 628/Materiales, configuraciones y técnicas especiales, 630/Sensores de resistencia eléctrica, 639/Sensores conductores (termómetros de resistencia), 639/Sensores de semiconductor en masa (termistores), 644/Sensores de semiconductor de unión, 648/Termómetros digitales, 650/Métodos de radiación, 652/Fundamentos de radiación, 653/Detectores de radiación: térmicos y fotónicos, 659/Termómetros de radiación de banda ancha (CD) no recortada, 669/Termómetros de radiación de banda ancha (CA) interrumpida (recortada), 673/Termómetros de radiación de banda selectiva (fotónicos) recortada (CA), 674/Termómetros de radiación de balance nulo automático, 678/Termómetros de radiación de brillantez monocromática (Pirómetros Ópticos), 678/Termómetros de radiación de dos colores, 681/Termómetro de radiación de fibra óptica con punta de cuerpo negro, 682/Medición de temperatura fluoróptica, 684/Sistema de formación de imágenes infrarrojas, 685/Problemas de medición de temperatura en el flujo de fluidos, 688/Error por conducción, 688/Error por radiación, 691/Efectos de la velocidad, 694/Respuesta dinámica de los sensores de temperatura, 696/Compensación dinámica de los sensores de temperatura, 700/Sensores del flujo de calor, 701/Sensores tipo trozo de metal (calorímetros), 701/Sensores de estado estacionario o asintóticos (medidor Gardon), 705/Consideraciones sobre aplicación, 706/Problemas, 707/Bibliografía, 708/Capitulo 9/Mediciones varias, 710/Medición de tiempo, frecuencia y ángulo de fase, 710/Nivel de líquido, 717/Humedad, 723/Composición química, 725/Medición de corriente y potencia, 726/Uso de “observadores” para medir variables inaccesibles en un sistema físico, 730/Combinación de sensores (filtrado complementario), 741/Medición de ángulo absoluto, 743/Problemas, 747/Bibliografía, 748/Parte 3/Manipulación, transmisión y registro de datos, 749/Capitulo 10/Dispositivos para manipulación, calculo y recompensación, 751/Circuitos puente, 751/Amplificadores, 757/Amplificadores operacionales, 757/Amplificadores para instrumentación, 763/Amplificadores de transconductancia y de transimpedancia, 766/Problemas de ruido, blindaje y puesta atierra, 767/Amplificadores con interruptor periódico estabilizados por interruptor periódico y de portadora, 769/Amplificadores de carga y convertidores de impedancia, 771/Observaciones importantes y conclusiones, 775/Filtros, 775/Filtros pasabajas, 776/Filtros pasaaltos, 781/Filtros pasabanda, 781/Filtros supresores de banda, 781/Filtros digitales, 783/Un filtro pasabanda hidráulico para un transductor oceanográfico, 786/Filtros mecánicos para acelerómetros, 786/Filtrado por promedio estadístico, 787/Integración y diferenciación, 788/Integración, 789/Diferenciación, 791/Compensación dinámica, 797/Sistemas de posicionamiento, 802/Adición y sustracción, 810/Multiplicación y división, 812/Generación de funciones y linealización, 815/Modulación y demodulación de amplitud, 818/Convertidores de viaje a frecuencia y de frecuencia a voltaje, 819/Convertidores analógico; amplificadores de muestreo y retención, 820/Analizadores de señales y de sistemas (analizadores de espectro), 823/Problemas, 832/Bibliografía, 834/Capitulo 11/Transmisión de datos y conectividad de los instrumentos, 835/Transmisión por cable de señales analógicas de voltaje (tensión ) y de corriente, 835/Transmisión de datos digitales por cable, 839/Transmisión de datos por fibra óptica, 840/Radiotelemetría, 841/Transmisión neumática, 846/Sincrosistemas repetidores de posición, 847/Transformadores de anillos colectores y rotatorios, 848/Conectividad de los instrumentos, 850/Almacenamiento de datos con reproducción retrasada (una alternativa para la transmisión de datos), 854/Problemas, 854/Bibliografía, 855/Capitulo 12/ Aparatos indicadores y registradores de voltaje, 856/Patrones y calibración, 856/Voltímetros analógicos y potenciómetros, 856/Voltímetros y multímetros digitales, 863/Registradores electromecánicos XT y XY del tipo de servomecanismo, 864/Registradores de matriz térmica y sistemas de adquisición de datos, 868/Osciloscopios y presentaciones visuales de rayos católicos, analógicos y digitales, y presentaciones visuales de panel plano y cristal líquido, Instrumentos virtuales, 874/Grabadoras/reproductoras de cinta magnética y de disco, 875/Bibliografía, 880/Capitulo 13/Sistemas de adquisición de datos para computadoras personales, 881/Características esenciales de las tarjetas de adquisición de datos, 882/El software de adquisición y procesamiento de datos, DASYLAB, 883/Los módulos funcionales de Dasylab, 883/Lista y descripción breve de los módulos funcionales, 884/Ejemplo número uno de simulación de DASYLAB, 887/Simulación de las señales del sensor y su registro en función del tiempo, 888/Detención de un experimento en un tiempo seleccionado, 890/Opciones del registrador de gráficas, 890/Producción de tablas o listas, 890/Medidores analógicos y digitales, 891/Algunas operaciones sencillas de procesamiento de datos, 891/Integración y diferenciación, 892/Ejemplo número dos de simulación de DASYLAB, 892/Ejecución de la demostración, 896/Ejemplo número tres de simulación de DASYLAB, 897/Ejecución de la demostración, 901/Un experimento sencillo del mundo real usando DASYLAB, 903/Capitulo 14/Sistemas de medición aplicados a la micro y nanotecnología, 912/Sensores de microescala, 913/Sistemas de posicionamiento por micromovimiento, 916/Instrumentos detectores de partículas y tecnología de cuarto limpio, 923/Mediciones de presión parcial en procesos al vacío, 932/Sistemas de levitación magnética para transportadores de obleas, 942/Microscopio de sonda de exploración, 948/Bibliografía, 955/Índice, 957 |
